ANSI/IEEE 1149.1-2001 标准测试存取口及边界扫描体系结构
作者:标准资料网 时间:2024-05-03 18:25:50 浏览:8653
来源:标准资料网
下载地址: 点击此处下载
【英文标准名称】:StandardTestAccessPortandBoundaryScanArchitecture
【原文标准名称】:标准测试存取口及边界扫描体系结构
【标准号】:ANSI/IEEE1149.1-2001
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2001-10-25
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(US-ANSI)
【起草单位】:IEEE
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子设备及元件;印制电路;数据处理;试验
【英文主题词】:Computerhardware;Dataprocessing;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Printedcircuits;Switchingcircuits;Testing
【摘要】:Definestestlogicthatcanbeincludedinanintegratedcircuittoprovidestandardizedapproachesto:a)testingtheinterconnectionsbetweenintegratedcircuitsoncetheyhavebeenassembledontoaprintedcircuitboardorothersubstrate;b)testingtheintegratedcircuititself;andc)observingormodifyingcircuitactivityduringthecomponent'snormaloperation.Thetestlogicconsistsofaboundary-scanregisterandotherbuildingblocksandisaccessedthroughaTestAccessPort(TAP).
【中国标准分类号】:M11
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:标准测试存取口及边界扫描体系结构
【标准号】:ANSI/IEEE1149.1-2001
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2001-10-25
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(US-ANSI)
【起草单位】:IEEE
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子设备及元件;印制电路;数据处理;试验
【英文主题词】:Computerhardware;Dataprocessing;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Printedcircuits;Switchingcircuits;Testing
【摘要】:Definestestlogicthatcanbeincludedinanintegratedcircuittoprovidestandardizedapproachesto:a)testingtheinterconnectionsbetweenintegratedcircuitsoncetheyhavebeenassembledontoaprintedcircuitboardorothersubstrate;b)testingtheintegratedcircuititself;andc)observingormodifyingcircuitactivityduringthecomponent'snormaloperation.Thetestlogicconsistsofaboundary-scanregisterandotherbuildingblocksandisaccessedthroughaTestAccessPort(TAP).
【中国标准分类号】:M11
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:
【正文语种】:英语
下载地址: 点击此处下载