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ISO 21013-4-2012 低温容器.低温设施的卸压附件.第4部分:低温工作用压力缓解配件

作者:标准资料网 时间:2024-05-12 14:08:25  浏览:8516   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Cryogenicvessels-Pilotoperatedpressurereliefdevices-Part4:Pressure-reliefaccessoriesforcryogenicservice
【原文标准名称】:低温容器.低温设施的卸压附件.第4部分:低温工作用压力缓解配件
【标准号】:ISO21013-4-2012
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2012-06
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际标准化组织(IX-ISO)
【起草单位】:ISO/TC220
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:容器;冷却设备;腐蚀;防腐;低温学的;低温容器;定义;设计;气体压力容器;识别牌;低温;制造;作标记;金属材料;导频控制;压力;压力限制;压力释放;压力容器;性能;减压阀;要求;密封;规范(验收);温度;温度稳定性;测试;公差(测量);阀器件
【英文主题词】:Containers;Coolingequipment;Corrosion;Corrosionprotection;Cryogenic;Cryogenicvessels;Definitions;Design;Gaspressurevessels;Identificationplates;Lowtemperatures;Manufacturing;Marking;Metallicmaterials;Pilotcontrol;Pressure;Pressurelimitation;Pressurereleases;Pressurevessels;Properties;Reliefvalves;Requirements;Sealing;Specification(approval);Temperature;Temperaturestability;Testing;Tolerances(measurement);Valvedevices
【摘要】:
【中国标准分类号】:A82
【国际标准分类号】:23_020_40
【页数】:10P;A4
【正文语种】:英语


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基本信息
标准名称:半导体器件 分立器件分规范 (可供认证用)
英文名称:Semiconductor devices--Sectional specification for discrete devices
中标分类: 电子元器件与信息技术 >> 半导体分立器件 >> 半导体分立器件综合
替代情况:被GB/T 12560-1999代替
发布日期:1990-12-06
实施日期:1991-10-01
首发日期:1900-01-01
作废日期:1900-01-01
起草单位:机械电子工业部电子标准化研究所
出版日期:1900-01-01
页数:12页
适用范围

本规范适用于除光电子器件之外的半导体分立器件。

前言

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所属分类: 电子元器件与信息技术 半导体分立器件 半导体分立器件综合
【英文标准名称】:Soilquality-Derivationofconcentrationsoforganicpollutantsinsoilwater
【原文标准名称】:土壤质量.土壤水份中有机污染物浓度的推算
【标准号】:DINV19736-1998
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1998-10
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:水常规(实验);土壤;定义;数学计算;测定;水常规;水;地下水;污染物;土壤采样;排放物;土壤组分;土壤分析;浓缩;有机物质;土壤试验
【英文主题词】:groundwater;soiltesting;soils;compositionoftheground;soilsampling;soilanalysis;organicmatters;definition;discharges;determination;mathematicalcalculations;pollutants;waterpractice;water;conc
【摘要】:
【中国标准分类号】:B11
【国际标准分类号】:13_080
【页数】:12P;A4
【正文语种】:德语



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